熱膨脹分析儀
型 號SD-DIL 402 Expedis
所屬分類分析儀器
報價9999
更新時間2024-11-17
產(chǎn)品描述：熱膨脹分析儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 集成了熱膨脹測量領(lǐng)域技術(shù)，為寬廣應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的專業(yè)級的應(yīng)用而設(shè)計。DIL Expedis 系列的所有型號均基于 NanoEye 測量系統(tǒng)，在測量范圍與精度兩方面達到了新的高度。
產(chǎn)品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 基本功能
軟化點檢測
軟件控制的力的調(diào)整（包括：線性力，恒定力，斜變力，步階力）
調(diào)制力
密度測量
用于溫度校正和檢測熱效應(yīng)的c-DTA® 功能
速率控制燒結(jié) RCS
曲線識別，通過數(shù)據(jù)庫對比識別未知的ΔL/L0曲線
密度測量，能夠測量樣品密度的連續(xù)變化，可應(yīng)用于固體、液體、熔體、粘稠樣品（如涂料），以及用于計算各向異性材料的體膨脹。
熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 技術(shù)參數(shù)
溫度范圍: -180 ... 2000°C（不同爐體）
升溫速率: 0 ... 100°C/min（不同爐體）
測量氣氛: 動態(tài)或靜態(tài)；氧化、還原、惰性、真空
樣品形態(tài): 固體、液體、粉末
樣品載荷: 10mN ... 3N，可變，可調(diào)制（選配）
選配擴展功能: c-DTA®、譜圖檢索、速率控制燒結(jié)
量程: ±25000μm
測量分辨率: 0.1nm
測試模式: 單樣品/雙樣品，樣品長度自動檢測
Multitouch技術(shù) : 標(biāo)配
Nanoeye位移傳感及載荷控制技術(shù): 標(biāo)配
雙爐體: 選配